
Maxwell PECT

ETi-200

Tillbehör

Prober og tilbehør, virvelstrøm
Pencil Probes fra ETher NDE er spesialdesignede eddy-current-prober for overflateinspeksjon (surface inspection) av både ferrometalliske og ikke-ferrometalliske materialer. Serien inkluderer både standard “Absolute” versjoner og “Bridge/IB-Tech-Inside” versjoner med forbedret signal-brus-forhold for krevende applikasjoner.
Nøkkelfunksjoner og fordeler
Passer for høyfrekvent overflateinspeksjon (f.eks. 200 kHz, 500 kHz, 2 MHz, 6 MHz) – gir fleksibilitet for ulike materialtyper og defektstørrelser.
Dobbel skjerming (ytre rustfri stål + indre ferritt) reduserer masseeffekt og forbedrer signaltoleranse ved kanter og metallflater.
Ergonomisk design med plast-håndtak og neoprengrep for redusert operatørtretthet og mer pålitelig inspeksjon.
Rask utskiftning og fleksibel konfigurasjon: forskjellige tipplengder, vinkler (rette, 90°, 45°, 15°), og kan tilpasses kundens spesifikke applikasjon.
Stor lagerbeholdning for hurtig levering – reduserer nedetid i inspeksjonsprosessen.
Tekniske høydepunkter
Frekvensvalg: 200 kHz (50-600 kHz), 500 kHz (150 kHz-1,5 MHz), 2 MHz (650 kHz-6 MHz), 6 MHz (2 MHz-18 MHz) for høy oppløsning.
Tipplengder fra 28 mm opp til 219 mm + total lengde opptil 305 mm for enkelte modeller.
Velg mellom “Fine Tip” variant (mindre diameter tips) for høyoppløselig inspeksjon og standard for generell bruk.
Micro-kontakt for standard modeller; Lemo 4-Way-kontakt for IB/Bridge versjoner med intern balanse (“InBal”) teknologi.
Bruksområder
Overflateinspeksjon i produksjon og vedlikehold hvor defekter som sprekker, riss, korrosjonsskader eller metallurgiske variasjoner må påvises.
Applikasjoner innen luftfart, olje & gass, metallproduksjon, transport og generelle metalliske komponenter.
Feltbruk og verkstedinspeksjon hvor fleksibilitet i probevalg og rask omstilling er nødvendig.
Sertifisering og kontroll-programmer der sporbarhet og tilpasning er kritiske.
Trykk på bildet for nedlastning av brosjyre

Ether AeroCheck+

EtherCheck

Ether NDE PockET
Ether NDE PockET er en ultralett, single-frequency eddy current flaw detector utviklet for profesjonell ikke-destruktiv testing (NDT) av metallstrukturer. Med et fokus på portabilitet, nøyaktighet og brukervennlighet, gir PockET deg evnen til å avdekke både overflate- og sub-surface defekter – alt fra inspeksjonsfeltet til trange områder du ellers ikke når.
Hvorfor velge Ether NDE PockET?
✔ PockET – Pocket-størrelse NDT-instrument
Med en vekt på kun 321 g og svært kompakte dimensjoner kan instrumentet enkelt bæres i lommen eller feltkofferten – uten å ofre ytelse.
✔ Profesjonell eddy current feildeteksjon
Utviklet for eddy current-testing med enkel single-frequency operasjon som gir rask og presis identifikasjon av både overflate- og sub-surface feil.
✔ Lang batterilevetid
Over 12 timers driftstid ved 50 % skjermlys gjør PockET ideell for lange inspeksjonsøkter i felt.
✔ Brukervennlig og intuitiv betjening
Tydelig og kontraststerk skjerm kombinert med enkel menystruktur og PC-tilkobling for dataoverføring og rapportering.
✔ Robust og feltklar konstruksjon
Solid bygget for industrielle miljøer og kompatibel med et bredt utvalg eddy current-prober, inkludert absolute, bridge og reflection.
✔ Fleksibelt tilbehør og tilkobling
Støtter standard eddy current-prober og har USB-tilkobling for enkel datahåndtering og analyse.
Bruksområder & Applikasjoner
Ether NDE PockET er ideell for NDT-inspeksjoner innen blant annet:
Luftfart og transport
Olje og gass
Metall- og prosessindustri
Sveiseinspeksjon
Produksjon, vedlikehold og kvalitetskontroll
Der rask og pålitelig defektdeteksjon er avgjørende.
Standard Leveringsomfang
PockET leveres som standard med:
Eddy current flaw detector (single-frequency)
USB-ladekabel
Robust transportkoffert
Hurtigreferansekort
Nødvendige tilkoblingskabler
Klar til bruk rett ut av esken.
Tekniske høydepunkter
Vekt: ca. 321 g
Batterilevetid: over 12 timer ved 50 % skjermlys
Frekvensområde: 1 kHz – 6 MHz
Display: 3,5" farge TFT-LCD
Tilkobling: Micro-USB note (USB-tilkobling for lading og dataoverføring)
Probestøtte: Absolute, Bridge og Reflection-prober
Instrumenttype: Single-frequency Eddy Current Flaw Detector
Kort oppsummert
Ether NDE PockET Eddy Current Flaw Detector kombinerer kraftig eddy current-teknologi med et kompakt, lett og feltvennlig design. Et ideelt valg for NDT-teknikere som trenger rask, nøyaktig og pålitelig inspeksjon – uansett hvor jobben utføres.



